通常通りSCF計算と構造最適化を行い電荷密度を求める。
入力ファイルでパラメータを
| 値 | 説明 | |
| icond | 10 | STM計算の指定 |
| destm | 0.15 | sampleとtipの電位差の絶対値が0.15 Vのとき |
| n_stm | 3 | 未使用? |
のように変更して計算するとnfchgt_r.dataが出力される。
STM.fというスクリプトで
| 変数 | 説明 |
| kx | KNLP、出力ファイルから読み取る |
| ky | KNMP、出力ファイルから読み取る |
| kz | KNNP、出力ファイルから読み取る |
| ax | x方向の格子ベクトルの長さ、Bohr単位 |
| ay | y方向の格子ベクトルの長さ、Bohr単位 |
| az | z方向の格子ベクトルの長さ、Bohr単位 |
| zv | 真空層の中心の高さ、Bohr単位 |
| thresh | 等電荷面を判定する電荷密度のしきい値、1/Bohr^3単位 |
を指定してコンパイル。
$ ifort -o STM.fep STM.f
STM.fepというバイナリにnfchgt_r.dataを読みこませると
$ ./STM.fep < nfchgt_r.data
占有状態および非占有状態の等電荷面がそれぞれocc.dataとunoc.dataに出力される。
例えばgnuplotを使うと
$ gnuplot gnuplot> set pm3d map gnuplot> set size ratio -1 gnuplot> splot "occ.data"